ダイナミックテスト機能を使用すると、セットルールに従って2つのセットパラメーターを切り替えてテスト対象のデバイスのダイナミック特性をテストできます。 SDL1000Xでは、CCダイナミックモードで最大周波数を25 kHzに設定できます。 電流プローブは変化する電流を高速で追跡し、電流の波形を解析できます。 CVモードでは、電圧をすばやく安定的に設定して電源装置の高速出力機能をテストできます。 瞬時電力が保護設定値を超えた場合、ヒカップ保護状態に入ります。
マルチステップ、時間設定、およびさまざまな負荷状態のテスト環境をサポートするリスト機能が搭載されています。 単一ステップのステップ値、パルス幅、およびスロープを編集することで複雑なシーケンスの組合せを数多く生成でき、さまざまなテストのニーズに応えます。
プログラム機能では、CC、CV、CR、CP、LEDなど、複数のテストをシミュレートできます。 合計で10個のテストファイルを編集でき、各テストファイルは最大50ステップをサポートします。
従来のCRモードに加えて、SDL1000Xにはダイオードのターンオン電圧設定が追加されています。実際のダイオードの動作状態をシミュレートし、LEDテスト時にチョップ電流を測定できます。
バッテリーテスト機能を使用すると、バッテリーの信頼性と残容量を効果的に確認できます。 CC、CP、およびCRモードを使用して、終止電圧、放電容量、放電時間などの終止条件を設定して電池の放電テストを実施できます。
| Comparative Data | SDL1000X | Tek 2380-120-60 |
|---|---|---|
| output | 150 V /30 A /200-300 W | 120 V/ 60 A/ 250 W |
| Operating Mode | CC/CV/CP/CR | CC/CV/CP/CR |
| CV Model Accuracy | ±(0.05% + 0.025%FS) | ±(0.05% + 0.025%FS) |
| CC Model Accuracy | ±(0.05% + 0.05%FS) | ±(0.05% + 0.1%FS) |
| CR Model Accuracy | 0.01% +0.0008 s | 0.01% +0.0008 s |
| CP Model Accuracy | 0.1% + 0.1%FS | 0.2% + 0.2%FS |
| Readback Resolution | 0.1 mV/0.1 mA | 0.1 mV/0.1 mA |
| Current Rise Time Range | 0.001 A/μs~2.5 A/μs | 0.001 A/μs~2.5 A/μs |
| Dynamic Mode Frequency | 25 kHz | 25 kHz |
| Protection Mode | OCP, OVP, OPP, OTP and LRV protection | OCP, OVP, OPP, OTP and LRV protection |
| Trend Chart | Support | Not support |
| Test Function | Short-circuit, Battery test, CR-LED mode, and factory test functions | Voltage rise/fall speed test, Battery test, CR-LED mode,OCP,OPP |
| Voltage/Current Monitor | Support | Support current monitoring |
| Compensation Mode Function | Support | Not support |
| List Operation Function | Support | Support |
| Interface | RS232/USB device/LAN/ USB-GPIB(option) | GPIB、USB device、RS232 |
| Display | 3.5 inch TFT-LCD | VFD |
*注： 上記の価格とパラメーターは、2024年1月10日現在の公式Webサイトから収集されたものです。 矛盾がある場合は、公式Webサイトの情報が優先されます。
| 比較に追加 | 产品型号 | 电压 | 电流 | 总功率 | 通道数 | 回读分辨率 | 电压电流测试最高速率 | 可调电流上升/下降速率 | 価格 |
|---|
