Solución de pruebas de rizado y ruido de la fuente de alimentación

Los rizados son variaciones o fluctuaciones de voltaje periódico en la salida de la fuente de alimentación y señales de interferencia de CA superpuestas en la salida de CC estable. Los rizados se miden en milivoltios (mV) y son un componente que está en sincronía con la frecuencia de conmutación. Las características de los rizados varían según las distintas fuentes de alimentación y pueden deberse a las decisiones de diseño, al rendimiento del filtro de alimentación, a las variaciones de carga u otras perturbaciones externas de las fuentes de alimentación.
A diferencia de los rizados, el ruido es un componente de la alta frecuencia que aparece entre las terminales de salida como interferencia aleatoria no periódica. Básicamente, el ruido de la fuente de alimentación comprende picos de voltaje o de corriente discontinuos e irregulares causados por diversas perturbaciones internas o externas en el sistema, como diseño no óptimo del circuito, cableado inadecuado y mal contacto.

Escenarios

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Prueba de fuentes de alimentación de bajo ruido

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Pruebas de rizado en diseño de fuentes de alimentación

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Pruebas de rizado en filtros de alimentación

Solución

Esta solución utiliza osciloscopios SIGLENT de alta resolución combinados con las sondas para carriles de alimentación SAP4000P con un bajo nivel de ruido, un amplio rango de offset y una alta impedancia de entrada para pruebas de rizado y ruido de fuentes de alimentación. La implementación incluye consideraciones detalladas y consejos de depuración para una óptima precisión en las mediciones. Para evaluar los impactos de las interferencias en señales de transmisión de alta velocidad, los usuarios pueden aprovechar las funciones de diagrama de ojo y de análisis de fluctuación disponibles en SDS6000Pro, SDS6000L y SDS7000A.
 

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