동적 테스트 기능에서는 설정된 규칙에 따라 2가지 설정 매개변수 간에 부하를 전환하여 테스트 대상 장치의 동적 특성을 테스트할 수 있습니다. SDL1000X는 CC 동적 모드에서 25kHz의 최대 주파수로 설정할 수 있습니다. 전류 프로브는 전류 변경을 고속으로 추적하고 전류 파형을 분석할 수 있습니다. CV 모드에서는 전압을 빠르고 안정적으로 설정하여 전원 공급기의 고속 출력 기능을 테스트할 수 있습니다. 순간 전력이 보호 설정 값을 초과하면 히컵 보호 상태가 됩니다.
프로그램 기능은 CC, CV, CR, CP, LED 등의 여러 테스트를 시뮬레이션할 수 있습니다. 총 10개의 테스트 파일을 편집할 수 있으며, 각 테스트 파일은 최대 50 스텝을 지원합니다.
리스트 기능은 다양한 부하 상태를 사용한 부하 내장 다중 스텝 및 시간 제한 방식의 테스트 환경을 지원합니다. 스텝 값, 펄스 폭, 단일 스텝 기울기를 편집하면 부하를 이용해 다양한 테스트 요구 사항에 맞는 다양한 복합 시퀀스 조합을 생성할 수 있습니다.
SDL1000X는 기존 CR 모드를 기반으로 다이오드의 턴온 전압 설정을 추가하여, 실제 다이오드의 작동 상태를 시뮬레이션하고 LED 테스트 시 재단 전류를 측정할 수 있습니다.
배터리 테스트 기능은 배터리의 안정성과 남은 수명을 효과적으로 반영할 수 있습니다. 배터리는 CC, CP, CR 모드로 종료 전압, 방전 용량, 방전 시간과 같은 종료 조건을 설정하여 방전 테스트를 거칩니다.
| Comparative Data | SDL1000X | Tek 2380-120-60 |
|---|---|---|
| output | 150 V /30 A /200-300 W | 120 V/ 60 A/ 250 W |
| Operating Mode | CC/CV/CP/CR | CC/CV/CP/CR |
| CV Model Accuracy | ±(0.05% + 0.025%FS) | ±(0.05% + 0.025%FS) |
| CC Model Accuracy | ±(0.05% + 0.05%FS) | ±(0.05% + 0.1%FS) |
| CR Model Accuracy | 0.01% +0.0008 s | 0.01% +0.0008 s |
| CP Model Accuracy | 0.1% + 0.1%FS | 0.2% + 0.2%FS |
| Readback Resolution | 0.1 mV/0.1 mA | 0.1 mV/0.1 mA |
| Current Rise Time Range | 0.001 A/μs~2.5 A/μs | 0.001 A/μs~2.5 A/μs |
| Dynamic Mode Frequency | 25 kHz | 25 kHz |
| Protection Mode | OCP, OVP, OPP, OTP and LRV protection | OCP, OVP, OPP, OTP and LRV protection |
| Trend Chart | Support | Not support |
| Test Function | Short-circuit, Battery test, CR-LED mode, and factory test functions | Voltage rise/fall speed test, Battery test, CR-LED mode,OCP,OPP |
| Voltage/Current Monitor | Support | Support current monitoring |
| Compensation Mode Function | Support | Not support |
| List Operation Function | Support | Support |
| Interface | RS232/USB device/LAN/ USB-GPIB(option) | GPIB、USB device、RS232 |
| Display | 3.5 inch TFT-LCD | VFD |
* 참고: 위에 명시된 가격과 매개변수는 2024년 1월 10일에 공식 웹사이트에서 수집한 것입니다. 차이가 있는 경우 공식 웹사이트가 우선합니다.
| 비교에 추가 | 모델 | 전압 | 전류 | 입력 전력 | 채널 | 리드백 분해능 | 측정 속도 | 가격 |
|---|
