产品简介
SRF5030T 近场探头套装包含了磁场（H）和电场（E）探头，可用于 EMC 预兼容测试，定位电子产品中的辐射源。近场探头类似于一个宽频的天线，从元器件， PCB 板，屏蔽盖缝隙等地方检测辐射信号。用尺寸更小的探头可以使定位辐射区域的精度更高。其他应用包括：冲击抗扰测试， RF 信号链中的故障排除，调制器和振荡器的非侵入性测试，配合低噪声放大器测频率，相位，频谱分量等。
SRF5030T
SRF5030T
产品优势
EMI测试
近场探头是电磁干扰定位系统的核心探测单元，在电子设备EMI故障诊断中发挥着关键作用。其通过非接触式磁场/电场耦合方式，可对PCB电路、线缆组件及屏蔽壳体等目标进行近场电磁测试。
- EMI干扰源定位测试系统
- 小信号放大
磁场近场探头
- SRF5030T-H20：可检查10cm范围内的磁场。主要用于机箱泄漏测试。频率范围：30MHz to 3 GHz，分辨率：25mm。
- SRF5030T-H10：可检查3cm范围内的磁场。频率范围：30MHz to 3 GHz，分辨率：10mm。
- SRF5030T-H5：主要用于线缆电磁泄漏测试。频率范围：30MHz to 3 GHz，分辨率：5mm。
- SRF5030T-E5：可检测垂直方向发射的电磁场。主要用于PCB布线产生的电磁场测试。频率范围：30MHz to 3 GHz，分辨率：5mm。
| 加入对比 | 产品型号 | 频率范围 | 分辨率 | 价格 |
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