自研射频前端芯片组，鼎阳科技发布67 GHz矢量网络分析仪，助力高频精准测量！
2026年9月28日，鼎阳科技发布测量频率最高可达67 GHz的SNA6000A系列高性能矢量网络分析仪。该产品具备0.1 Hz频率分辨率与1 Hz至30 MHz可调中频带宽，-60 dBm至+20 dBm功率输出设置范围，典型动态范围达136 dB。
SNA6000A搭载自研67 GHz毫米波射频前端芯片组，采用直接数字合成激励源架构，具备完善的硬件配置与丰富的软件功能，可广泛应用于5G/6G毫米波通信、高速互联、半导体芯片及高频器件的研发与生产测试
01 自研芯片，夯实毫米波测试基础
自2020年起，鼎阳科技持续推进核心芯片自主研发，从8 GHz示波器前端芯片，到20 GHz、再到40 GHz高带宽前端芯片组在SDS8000AP H12系列33 GHz/12-bit示波器上的落地。在高性能微波组件、精密微组装、低噪声与高线性度设计上的积累，进一步应用于67 GHz矢量网络分析仪的射频前端。
这是继SDS8000AP H12系列之后，鼎阳科技在自研核心芯片战略上的又一重要突破，实现了从示波器前端芯片向射频微波全链路芯片能力的持续拓展。SNA6000A搭载自研67 GHz射频前端芯片组，构成完整的射频链路基础。
通过高度协同的低噪声设计与宽带匹配优化，显著提升了接收前端灵敏度与整机动态范围，在67 GHz毫米波频段保持低噪声系数与优异的端口匹配性能，完成精确的S参数测量与误差修正。同时改善整条射频链路的匹配特性、功率控制精度与相位稳定性，为高频测试提供可靠的硬件支撑。
02 高速DDS扫频,大幅提升测试效率
SNA6000A激励源采用DDS直接数字合成架构。与传统模拟扫频方案相比，DDS架构在扫描速度上实现显著提升，支持快速线性与对数频率扫描、分段扫描以及功率扫描，扫描点数最高可达210001点，大幅缩短测试周期，尤其适合USB4，高速SerDes等生产线高通量场景。
SNA6000A支持精确的相位锁定与相位跟踪，可满足矢量混频器测量、相位阵列校准以及材料介电特性测试等对相位敏感的应用需求。DDS架构同时带来优异的频率分辨率与低相噪，确保测量结果的可重复性与稳定性。
高速互联/光电材料测试
03 丰富的软件功能，全面支持多场景测试
SNA6000A提供直观高效的操作体验，用户可通过向导式设置快速完成复杂测量配置与校准。支持完整S参数测量、差分与混合模式测量、时域分析、TDR、频谱分析、增益压缩、标量/矢量混频器测量、材料测量、脉冲测量、噪声系数测量、相位扫描测量、差分I/Q测量以及真差模/共模激励等多种应用。
支持多种校准方法以及内部源功率校准与接收机校准，有效提升测量精度。端口延伸、去嵌入、阻抗转换与匹配、极限测试、纹波测试、带宽分析、公式输入、自动夹具移除等功能可有效消除系统与夹具误差并提升操作效率。
SNA6000A支持同时存储多种设置以便快速切换测量任务，并提供完善的远程编程接口与数据存储调用功能，便于生产线自动化与数据管理。用户界面采用12.1英寸高清触摸屏与触控手势操作，支持迹线拖放、缩放与多通道同步显示，面对大量迹线也能保持清晰直观的整体视图。
04 高速互连测试，支持算力数据中心的高速连接需求
随着AI算力快速增长，数据中心向更高速率演进，高速铜缆、连接器及高密度PCB作为关键互连载体，其通道数与信号速率不断提升，对多通道差分信号测试的精度与效率提出更高要求。SNA6000A具备真正并行的多接收机架构与完善的差分/时域分析功能，可精准完成高速线缆、连接器及PCB的阻抗、损耗与串扰测试，为信号完整性验证、设计优化与良率管控提供可靠支撑。
面向高速线缆与连接器测试，SNA6000A覆盖10 MHz至67 GHz连续扫描，支持四端口真差分测量，可同步完成差分插入/回波损耗及近端、远端串扰测试。配合开关矩阵可扩展更多端口，实现多通道线束高效测量。TDR功能可实现时域阻抗测试。自研AFR自动夹具去嵌算法，可有效消除高速线缆测试中由夹具引入的误差。SNA6000A标配内置双源并采用DDS架构，扫描速度行业领先，在对测试效率要求极高的线缆生产线上具备独特优势。
面向高速PCB测试，服务器主板、AI加速卡、高速背板等高密度互连场景，SNA6000A提供从频域到时域的完整表征，可精准捕捉高密度差分走线的损耗与串扰差异。支持多种校准方法与夹具去嵌入功能，有效消除测试寄生影响，真实还原板级互连特性。TDR直观展示走线及过孔处的阻抗变化，精准定位不连续点，辅助优化走线设计。多端口架构支持多通道批量测试，为PCB研发验证与生产良率管控提供量化依据。
05 广泛的应用场景，覆盖高速与毫米波测试
SNA6000A覆盖5G/6G毫米波通信、高速数字、半导体、光通信及材料科研等多类场景。可完成PCIe、USB4、高速SerDes等高速总线无源互连链路的信号完整性验证。支持高速光模块与硅光芯片射频特性分析，精准测量电光、光电、光光转换的宽频响应，为1.6T乃至更高速率光模块的研发提供可靠测试保障。
面向5G/6G毫米波通信，可开展基站与终端射频模组、相控阵天线幅相校准、波束赋形及阵列互耦测试，适配天线与TR组件的研发及来料检验。同时满足放大器、滤波器等有源、无源高频器件调试、可靠性验证与产线批量测试，也可供科研机构完成电路板基材、吸波介质等新材料的电磁参数表征，为从前沿研发到规模化量产提供国产化高频测试支撑。
无论是研发阶段的精密验证，还是高通量产线测试与多端口自动化测量，SNA6000A都能以高动态、宽频带与丰富功能矩阵提供可靠支撑。依托自研仪器平台与核心芯片能力，鼎阳科技持续完善国产高端射频微波测试生态，为半导体、高速数字与光通信等领域提供自主可控的解决方案。
完善高速测试链路！鼎阳科技发布SDS6000B系列高分辨率示波器及16/20GHz高带宽差分探头
2026年9月21日，鼎阳科技发布SDS6000B系列高分辨率数字示波器及SAP160D/SAP200D高带宽差分有源探头。SDS6000B系列采用12-bit ADC，带宽最高4 GHz，实时采样率最高20 GSa/s，波形捕获率高达100万帧/秒，并配备1 Gpts/CH存储深度及丰富的触发、协议解码和高级分析功能；12.1英寸电容式触摸屏让操作更加高效灵活，可广泛应用于高速数字电路、嵌入式系统、汽车电子及电源等领域，为研发、调试与验证提供全面的测量支持。
在高速信号测试中，探头不仅承担着连接示波器与被测信号的作用，其自身性能也会直接影响最终的测量结果。鼎阳SAP160D与SAP200D高带宽差分有源探头，分别提供16 GHz和20 GHz带宽，专为高速信号测量而设计，满足高速数字电路、信号完整性等测试需求。
双架构突破丨鼎阳科技新一代旗舰AWG重磅升级，输出频率提升至8GHz！
2026年9月7日，鼎阳科技推出新一代输出频率8GHz的旗舰任意波形发生器SDG8100A系列及模块化任意波形发生器MA024A/MA034A/MA054A和MA024A-U/MA034A-U/MA054A-U，聚焦高性能高速信号生成与模块化系统集成需求。
SDG8100A 台式机型支持 2/4 通道模拟输出，最高输出频率与信号带宽可达 8 GHz，最大采样率 20 GSa/s ， 具有 16‑bit 垂直分辨率与 16 Gpts 波形存储深度；模块化系列产品则提供 PXIe 板卡与 USB 紧凑型设备两种形态，单板卡提供 4 路模拟信号输出，支持最高 2.4 GSa/s 采样率、16‑bit 垂直分辨率及最大 512 Mpts 波形存储，并可通过多模块协同实现大规模多通道同步信号输出。
两款系列均覆盖高速电子、无线通信、芯片验证、汽车电子、新能源、先进计算及科研教育等应用场景，为复杂信号生成、高速器件测试及自动化测试系统构建提供更加灵活的解决方案。
01 满足高速边沿设计需求
随着芯片、高速数字电路、汽车电子及功率电子等领域对高速信号测试提出更高要求，测试设备不仅需要更高的输出频率，也需要具备更加出色的脉冲生成能力。SDG8100A可输出脉宽低至125 ps的窄脉冲，最快上升时间可达55 ps，可用于高速器件、芯片及汽车电子等应用中的快速边沿与窄脉冲测试。
02 兼顾高速采样与长时间播放
高速采样会带来庞大的波形数据量，如何在高采样率下实现长时间波形播放，是复杂测试场景中的重要需求。SDG8100A每通道最大波形存储深度可达16 Gpts，并支持Segment、Sequence、Scenario多层级序列波编辑与播放。
用户可以将多个波形片段按照预设顺序及播放条件进行组合，从而模拟真实应用中的复杂信号变化。仪器内置196种任意波形，覆盖数学、工程、医疗电子、调制等多种应用领域。用户既可以直接调用内建波形，也可以根据具体测试需求进行自定义编辑。
03 高速串行信号生成
面向高速数字通信及串行总线测试需求，SDG8100A支持高速串行码型信号输出，最高PRBS码型数据率可达5 Gbps，并支持NRZ、PAM等高速串行信号生成。凭借低抖动输出能力和高速边沿性能，SDG8100A能够模拟高速串行数字通信中的典型测试信号，为芯片、高速接口及相关电子系统的设计验证提供更好的信号生成方案。
04 丰富的调制与通信信号生成能力
SDG8100A 提供丰富的模拟及数字调制功能，包括 AM、DSB-SC、FM、PM、FSK、ASK、PSK、PWM 等模拟及数字调制方式，最大调制带宽可达4 GHz；支持多音信号和最大8 GHz线性调频信号输出，可满足多类感知测试需求。结合鼎阳科技 SiglQPro 波形生成软件，SDG8100A 还可便捷生成 5G NR、LTE、WLAN、Bluetooth、IoT 及 OFDM 等常见通信协议和调制信号波形，高效地完成复杂通信信号的创建与测试。
模块化任意波形发生器，构建多通道同步测试系统
面向系统级测试与自动化测试需求，鼎阳科技同步推出模块化任意波形发生器，提供PXIe板卡与USB紧凑型设备两种形态。
产品输出频率覆盖500 MHz、350 MHz和200 MHz，提供4路模拟信号输出，具备16-bit垂直分辨率、最高2.4 GSa/s采样率及最大512 Mpts任意波存储深度。同时支持序列波、双脉冲、PRBS、Sweep、Burst、模拟与数字调制、IQ信号生成等功能，可通过多模块协同实现多通道同步信号输出，为无线通信、先进计算、芯片检测、新能源及汽车电子等领域的研发与自动化测试提供模块化信号生成方案。
双形态灵活部署，从桌面研发到系统集成
PXIe任意波形发生器单模块提供4路模拟信号输出，可直接插入标准PXIe机箱使用。依托PXIe平台的模块化架构，用户可根据测试需求灵活扩展模块数量，在同一机框内构建多通道同步信号输出系统，单机框最高支持64路同步输出；通过多机框协同，系统最多可扩展至4框252路同步输出，满足无线通信、芯片检测、先进计算等领域对大规模多通道信号输出的需求。
USB形态采用紧凑型盒式机箱，通过USB接口与上位机连接，在保留核心波形生成能力的同时进一步提升设备的便携性与部署灵活性，适用于桌面研发、实验室测试、教育教学及现场测试等场景。
高精度同步，实现多通道并行测试
对于多通道测试而言，输出通道数量之外，通道间同步能力同样重要。PXIe任意波形发生器内部通道输出同步精度可达30 ps；在同一PXIe机框内，模块之间无需额外配置系统定时模块，即可实现300 ps的通道同步精度。结合PXIe模块化架构，用户能够快速构建多通道同步信号输出系统。单机框最多支持64路同步输出，通过4个机框协同，系统最多可扩展至252路同步输出，满足多通道器件测试、无线通信、芯片验证以及复杂系统级测试对大规模同步激励的需求。
开放的软件生态，助力自动化测试系统搭建
产品提供完善的软件与编程接口，支持SCPI、API和IVI等控制方式，便于用户将波形配置、参数设置、序列播放、信号输出及测试流程集成至自动化测试系统中。PXIe版本还可与鼎阳科技其他模块化测试产品协同工作，根据用户需求灵活组合信号生成、信号采集及其他测试功能，搭建面向具体应用的一体化测试平台。
从模块化示波器、模块化矢量网络分析仪，到此次推出的模块化信号源，鼎阳科技持续完善模块化产品布局，逐步构建覆盖信号采集、信号生成、网络分析与系统控制的模块化测试产品体系。
64路同步机焕新升级！提升多通道同步测试效率
新品发布
2026年8月17日，鼎阳科技发布全新SYN64-R 64路同步机，对原SYN64产品进行了升级迭代，SYN64-R围绕多通道同步测试中的信号源切换、触发控制、时序一致性、设备交互及远程控制等关键需求进行全面优化，在原有64路信号分发能力的基础上，新增至四端口输入、可配置触发条件、输出延时调节、屏幕交互及指令远程控制等功能，且64路输出通道间的相对时延偏差控制在50 ps以内，为多通道数据采集及复杂测试系统提供更加灵活、高效的同步解决方案。
4端口输入，64端口输出
在多节点测试系统中，不同测试任务往往需要调用不同的触发源或同步信号。SYN64-R新增至四个输入端口，可根据测试需求选择相应的输入信号源，减少频繁更换外部连接的操作，提升测试系统的配置灵活性。
依托64路信号输出能力，SYN64-R可将输入的数字信号同步分发至多个测试节点，实现多台示波器的协同触发与同步采集。以鼎阳SDS6000L系列8通道型号示波器为例，单台SYN64-R最多可同步64台示波器，实现最高达512个模拟通道的大规模并行采集系统，满足多节点、高密度信号同步监测需求，为复杂电子系统的并行测试提供稳定的同步信号基础。
低偏斜输出
对于多通道数据采集系统而言，信号分发过程中的时序误差会影响不同测试节点之间的同步精度。SYN64-R针对输出时序能力进行升级，64路输出通道间的相对时延偏差控制在50 ps以内。并支持按组调节输出延时，BUFF模式下延时调节范围为3 ns，分辨率达10 ps；触发模式下延时调节范围达30 s，分辨率达7 ps，可根据不同测试需求对各组输出的时序进行精细调整。
通过更加精细的输出时序控制，SYN64-R能够为多通道测试系统提供稳定、可调的同步信号，满足多节点协同采集等对时序精度要求较高的应用需求，为复杂测试系统中的时序匹配与同步误差控制提供更大的调节空间。
灵活的触发控制
SYN64-R进一步增强了触发控制能力。针对不同输入通道，用户可根据测试需求配置相应的触发方式，并支持BUFF、Normal、Force等触发模式，同时提供边沿、脉宽、斜率等触发类型选择。
面向自动化测试需求，SYN64-R支持通过局域网连接并使用指令对设备进行远程控制，可与示波器、信号源及其他测试设备组成自动化测试系统。通过程序化控制同步机的输入、触发及输出等功能，用户可以将同步机纳入完整的自动化测试流程，减少人工操作，提高测试过程的可重复性与执行效率，为批量测试及复杂测试系统集成提供更加灵活的控制方式。
鼎阳科技持续围绕高性能测试测量场景完善产品矩阵，对产品核心性能持续优化，为复杂电子系统研发、验证及自动化测试提供更加完整、高效的测试解决方案，多方位满足通信、半导体、汽车电子等多领域的测试测量需求。
再立国产示波器新标杆！搭载40GHz前端芯片组，鼎阳科技发布33GHz/12-bit高带宽实时示波器！
2026年8月17日，鼎阳科技正式发布SDS8000AP H12系列数字示波器，具备硬件12-bit垂直分辨率，覆盖33 GHz/25 GHz/20 GHz带宽。
SDS8000AP H12系列每通道实时采样率80 GSa/s，最大存储深度2 Gpts/CH。整机核心芯片实现自主研发，搭载40 GHz高带宽前端芯片组，支持PAM4眼图与抖动分析，支持DDR、PCle、MIPI、USB等主流高速接口一致性测试等高级功能，适用于高速算力芯片、光传输器件、高速通信及车载高速电子的信号完整性调试与验证。
不断迭代的“芯高度”
基于长期在通用电子测试测量仪器领域模拟电路技术的深厚积累，鼎阳科技自2020年开始实施自研核心芯片战略。2022年12月，鼎阳科技同时发布8 GHz示波器前端芯片和SDS7000A系列示波器；2025年10月，进一步推出搭载自研20 GHz前端芯片的16 GHz示波器SDS8000A系列；如今，随着SDS8000AP H12系列的发布，示波器前端芯片能力再次实现跃升，实现40 GHz高带宽前端芯片组的技术突破。
从8 GHz到20 GHz历时3年，从20 GHz再到40 GHz历时不到1年，鼎阳科技持续向高带宽示波器前端芯片的更高技术水平迈进，芯片能力向上迭代的速度不断提升。团队攻克高性能微波组件、精密微组装等关键工艺，实现核心前端芯片、模拟前端与整机系统的协同优化。整机搭载频响补偿、交织杂散补偿等系统化校准技术，对全链路性能进行统一优化。本次发布的前端芯片组兼具低噪声、高线性度等特性，可更细致地捕捉微弱信号变化，并支持长时间窗口下复杂波形的完整采集，更好地满足前沿硬件研发阶段各类信号验证需求。
12-bit高分辨率，信号纤毫毕现
高速硬件研发测试中，许多关键缺陷可能表现为微小的幅值波动。传统8-bit示波器的量化级数为256级，而SDS8000AP H12系列采用硬件实现的12-bit垂直分辨率，量化级数提升至4096级，相较于8-bit实现16倍的量化级数提升，可对微小幅度变化进行更加细致的呈现。
SDS8000AP H12不依赖软件插值提升视觉效果，硬件12-bit分辨率直接作用于原始采样数据，为时域波形、眼图及相关测试分析提供更丰富的幅度信息，帮助研发人员更准确地识别微小信号异常，提升高速信号测试与分析的有效性。
眼图与抖动分析
SDS8000AP H12内置专业眼图与抖动分析软件，可自动提取高速串行信号时钟，生成稳定高清眼图，支持眼高、眼宽、抖动等关键指标一键测量；同时兼容行业标准/自定义模板校验，搭配抖动、噪声频谱、直方图拆解视图，可溯源各类干扰来源。对于高速互联常用的PAM4信号，四电平信号间的电平间距较小，噪声、抖动及码间串扰等因素容易导致信号质量下降，并进一步影响系统误码性能
SDS8000AP H12系列凭借12-bit硬件垂直分辨率与高带宽前端，可更细致地呈现PAM4各电平状态及信号劣化特征，清晰观察电平间的幅度差异，精准捕捉噪声、抖动和码间串扰等因素引起的波形变化，帮助研发人员更加准确地评估高速链路的信号完整性，快速定位链路设计中的潜在问题。
协议一致性分析
SDS8000AP H12集成丰富的高速串行协议与总线标准一致性测试套件，面向高速计算、PC和服务器、汽车电子及工业商用等多类应用场景，覆盖存储、高速互联、车载通信、多媒体及以太网等主流接口。
如面向高速计算及PC和服务器应用，支持DDR2/3/4/5、LPDDR4、PCIe 1.0/2.0/3.0/4.0、USB 2.0、USB 3.2等高速接口；面向汽车电子通信与高速互联应用，支持10BASE-T1S、100BASE-T1、1000BASE-T1、GMSL2、MIPI C-PHY1.2、MIPI D-PHY1.2等协议；同时覆盖工业以太网等应用：支持DP 1.4、10BASE-T、100BASE-TX、1000BASE-T、2.5G/5G/10GBASE-T等接口。
结合相应的测试夹具，用户只需按照测试要求完成测试环境搭建，即可调用相应的一致性测试项目，示波器能够自动完成参数设置、测量分析并生成测试报告，简化测试流程，提高一致性测试的效率。
全面的测试能力
SDS8334AP H12支持多种应用功能，包括支持32M点FFT分析、20多种触发方式，20多种时域运算以及超过60种参数的测量，还具备历史模式、搜索和导航、SignalScan、高速模板测试等功能。这些功能矩阵让产品构建起强大的应用生态，能覆盖大多数行业的测试需求，真正做到“一机多用，即测即析”。
SDS8000AP H12 是鼎阳科技自主研发的新一代高分辨率、高带宽数字示波器。依托全面的测量性能与完备分析功能，产品可稳定支撑尖端半导体、车载电子等高标准研发测试；优异的硬件指标，也为高速信号完整性分析、多协议总线调试等前沿研发工作提供可靠测试支撑。依托完整自研仪器平台，鼎阳科技持续完善高端国产测试设备能力，为高端硬件研发提供自主可控的测试方案。
双箭齐发 | 鼎阳科技发布双象限电源与双通道精密电源，覆盖高速光通信与新能源测试场景
新品发布
2026年8月6日，鼎阳科技再度升级直流电源产品矩阵，推出高性能双通道可编程直流线性电源SPD4051X、1500W宽范围可编程直流开关电源SPS6151X。一款聚焦光通信等精密供电场景，一款主打大功率源载双向测试，可覆盖高速光通信、新能源、半导体等多领域研发与量产测试需求。
SPD4051X双通道精密电源：大电流供电，适配高端精密器件测试
设备采用独立双通道线性电源架构，针对主流精密器件的供电需求做了优化：CH1支持5V/16A输出、CH2支持6V/10A输出，两路通道完全独立可控，具备大电流输出能力，支持同步或延时启停、列表运行及通道耦合，适配多回路器件同步供电测试。整机输出纹波噪声低，拥有0.1mV/1mA的设置与回读分辨率，可精准捕捉微小供电波动，保障精密器件测试数据的真实性与稳定性。
SPD4051X 内置波形显示、序列编辑功能，支持本地参数保存与外部文件导入，具有微秒级输出响应速度，可高效完成器件上电性能、稳定性、耐受性等多维度测试验证。
在通信光电器件测试场景中，器件对供电噪声、电压精度、上电时序要求高，普通电源输出的纹波、过冲容易引发测试异常，SPD4051X可最大程度保证供电纯净、稳压精准，有效抑制上电浪涌，降低电压偏移造成的测试误差。
SPS6151X双象限大功率电源：内置电子负载，单设备实现双象限测试
本次推出的SPS6151X，具备100V/50A/1500W宽范围输出能力， 内置100V/10A/150W电子负载，支持源、载双象限切换，无需外接负载设备，即可完成供电、电流吸收、动态切换等复杂测试。
SPS6151X延续了SPS6000X系列产品的成熟特性，支持电压/电流升降斜率自定义、CV/CC优先模式、LIST序列编辑，可精准模拟上电浪涌、电压瞬变、间歇供电等工况，具备过压、过流、过温等多重保护，兼顾测试精度与设备安全性。
宽范围输出架构可灵活匹配不同电压、电流工况组合，大幅提升电源利用率；SPS6151X支持多台设备并联扩容，最高可扩展至7500W大功率输出，适配新能源部件、储能模块、电源整机、车载电子等动态功耗器件的测试。同时标配多种通信接口，内嵌Web Server实现远程控制，无需复杂的上位机软件即可完成程控测试，适配自动化测试平台搭建需求。
本次推出的两款新品进一步完善了鼎阳科技直流电源产品布局：SPS6151X双象限电源补齐大功率双向测试设备短板，凭借一体化、高集成、可程控的优势，降低工业自动化测试门槛；SPD4051X双通道大电流电源则重点面向高端小型器件测试、实验室研发以及精密量产测试等应用场景。
鼎阳科技发布SSG3000X Plus系列射频信号发生器
2026年6月29日，鼎阳科技推出SSG3000X Plus系列射频信号发生器。该系列覆盖9 kHz至3.2 GHz频率范围，最大输出功率+20 dBm，可选高稳OCXO参考源，相位噪声和底噪优异，脉冲信号保真度全面提升，带来更纯净的信号输出和更稳定的性能表现。
SSG3000X Plus标配AM/FM/PM模拟调制、脉冲调制及USB功率计控制，支持自定义脉冲序列和外部IQ调制，配备5英寸电容触摸屏，广泛适用于射频元器件表征、接收机测试、生产制造、教育教学及维护等领域，为用户提供纯净稳定且更具竞争力的专业射频信号解决方案。
高稳参考源
SSG3000X Plus可选高精度OCXO参考源，显著提升频率稳定性，提供优异的温度稳定度和低老化率，降低温度变化和长期使用带来的频率漂移，满足长期测试和精密应用对频率准确性的严苛要求，确保信号输出长期稳定可靠。
低相位噪声
在1 GHz载波、20 kHz偏移处相位噪声典型值优于-117 dBc/Hz，40 MHz偏移处底噪典型值优于-153 dBc/Hz，在宽频段内实现优异的谐波与非谐波抑制，为高精度接收机测试及敏感测量提供更精准可靠的测试结果。
丰富的调制功能
标配AM/FM/PM模拟调制，支持内部、外部及内+外调制源。IQ调制功能（IQE型号）通过外部I/Q输入实现，搭配SDG6000X基带源可生成16QAM、QPSK等矢量信号，RF调制带宽200 MHz，满足复杂数字调制信号生成需求。
支持脉冲调制功能，上升/下降时间典型值小于15 ns，通断比可达68 dBc。更平坦的脉冲波形降低了对功率放大器、T/R组件等器件的损伤风险，支持单脉冲、双脉冲及最多2047个脉冲的脉冲序列（选件PT），脉冲宽度和周期可精细调节，满足脉冲设备测试需求。
便捷的操作体验
SSG3000X Plus配备5英寸电容触摸屏，操作直观便捷。提供灵活的步进/列表扫描，点数高达65535，并配合多种触发方式，可快速完成频率与功率扫描。内置功率计控制功能，可补偿线损与温度漂移。支持Web远程控制，配合USB、LAN及可选GPIB等丰富接口，轻松集成至现有测试系统。
鼎阳科技发布两款测量新品：七位半高精度数字电压表与背面板输入型六位半万用表
2026年3月17日 鼎阳科技发布两款数字万用表新品，分别为七位半高精度数字电压表SDM4075A-DV，以及具备背面板输入功能的六位半数字万用表SDM4065A-RE。两款产品均针对细分测试场景进行深度功能优化，覆盖高端科研、精密工业制造、半导体与新能源测试等多领域需求，为自动化系统集成、高精度电压测试、工业产线批量测试等场景提供了更适配的产品选择与测试解决方案。
七位半数字电压表
SDM4075A-DV
此次推出的SDM4075A-DV七位半高精度数字电压表，专为以电压测量为核心需求的应用场景打造。SDM4075A-DV聚焦直流电压测量功能，简化了操作流程，可有效规避使用复杂功能导致的误操作风险，提升产线测试效率。七位半分辨率下可精准捕捉微弱的电压信号，最大限度降低测量回路对被测电路的影响。产品可适用精密半导体器件测试、电源与电力电子设备性能验证、工业长期在线监测等对电压测量有高要求的应用场景。在保障高精度测量能力的同时，还能拥有更优的采购成本优势，减少项目整体硬件的投入。
背面板测量输入端子
SDM4065A-RE
同步推出的SDM4065A-RE万用表，在原有SDM4065A系列万用表的测量性能与功能基础上，新增背面板测量输入端子设计。工业机柜的通用标准化布线规则为前操作、后布线，该设计可适配机架式安装与ATE自动化测试系统的集成需求，解决了传统仅前面板接线在机柜集成场景中布线不便等问题。用户可根据使用场景灵活选择前面板或背面板接线：实验室测试场景下，可通过前面板完成便捷操作与读数；自动化系统集成场景下，可通过背面板规范布线，提升测试系统整洁度。SDM4065A-RE保留了系列产品原有的高速采样能力，标配 LAN、USB等接口，兼容SCPI程控指令，可适配产线批量测试、工业测控、常规科研实验等多类应用场景。
01. 高速精准采样
SDM4075A-DV和SDM4065A-RE可提供高达50,000个读数/秒的采样速度，能够在不同测试需求下提供灵活的测量选择。无论是电路性能测试，还是信号变化监测都具有极佳的优势。
02. 高效数据记录
产品均配备高效的记录仪功能，支持设置记录间隔从0.1秒到3600秒，并可在内存中存储多达200万个数据点，或将数据保存到文件中，最多可记录360万个数据点。无论是短期监测还是长时间数据记录，100小时的持续记录能力能确保不漏掉重要的测试数据，极其适配需要采集数据量较大的测量需求。
03. 精确波形分析
产品集成了高性能数字化仪功能，SDM4075A-DV最高2 MSa/s的采样率，SDM4065A-RE最高50 kSa/s的采样率，确保能够快速捕捉到信号的细微变化。可提供实时可靠的波形分析支持，无论是快速变化的波形还是精细的噪声分析，数字化仪功能都能提供精确的测量结果。适用于测试与调试快速变化信号的场景，如电子设备的性能评估、信号干扰分析和音频测试等。
鼎阳科技全新推出模块化产品组合，构建新一代模块化、软件定义的测试平台
2026年1月12日，鼎阳科技全新推出PXIe模块化示波器、PXIe模块化矢量网络分析仪和USB矢量网络分析仪三款新品，并同步推出三款PXIe嵌入式控制器与PXIe混合机箱。基于模块化架构、卓越性能与灵活的系统集成能力，这三款产品进一步丰富了公司的产品矩阵，为通信、新能源、半导体等领域的研发与生产测试提供更灵活高效的解决方案.
模块化数字示波器
高分辨率模块化示波器
鼎阳MS高分辨率模块化示波器是采用高端台式示波器技术的PXIe模块，最高1 GHz带宽，2个通道，最高5 GSa/s采样率，最大存储深度可达1.25 Gpts/通道。12-bit垂直分辨率、优秀的本底噪声性能和垂直测量精度，支持丰富的智能触发、串行总线触发和解码；支持历史模式、分段采集、连续流采集、模板测试、SignalScan、波特图等高级分析模式，可精准支撑多元测量需求。
PC端高效交互 多窗口协同观测
MS高分辨率模块化示波器可通过SigScopeLab软件实时查看波形和分析处理, 支持PC端实时和离线波形数据分析，提供与鼎阳高级示波器相同的用户交互界面，支持多窗口分窗显示、各Memory波形水平时基独立调节，搭配Zoom功能清晰地捕捉波形细节，极佳避免脱离实体设备的不适感，助力工程师高效完成波形分析。
多语言编程接口 复杂系统集成
鼎阳高分辨率模块化示波器支持丰富的 SCPI 远程控制命令，以及 API、IVI等编程接口，可通过编程接口控制模块示波器进行数据采集，将波形数据上传至PC端进行深度分析。兼容 C/C++、C# 、Python、LabVIEW、LabWindows/CVI等多种编程语言的开发适配，可轻松对接工业控制系统与数据分析平台，同时能有效提升设备利用率，显著增强测试的可重复性与系统级协同效率。
模块化矢量网络分析仪
传承旗舰性能 双形态部署
同步推出的模块化矢量网络分析仪提供PXIe模块与USB便携式两种形态选择，为用户带来前所未有的部署灵活性，提供系统集成与真正的多通道测试能力。两款产品共享核心硬件平台，覆盖100 kHz至20 GHz宽频率范围，0.1 Hz高精度频率分辨率与1 Hz至10 MHz可调中频带宽，-55 dBm至+20 dBm功率输出设置范围，典型动态范围高达119 dB，在复杂测试场景中仍能保持优异的测量精度。
模块化设计 高集成易扩展
采用PXIe模块化设计，单模块实现双端口S参数分析，可按需配置与灵活升级。支持多模块协同工作，在同一机箱内级联多个VNA模块，轻松扩展端口而无性能损耗。更小的占地与更高的集成度，支持与现有PXIe系统无缝集成，可灵活搭配PXIe示波器等模块构建一体化测试系统，打造未来实验室与生产线。
统一软件生态 高效自动化
两款产品共享同一软件平台SigVNA，操作逻辑、界面布局与SNA系列高度统一，用户可快速上手。一台设备集成多种功能，配备时域分析、增强时域分析、频谱分析及自动夹具移除等丰富测量功能。依托PXIe总线的固有优势，实现通道、存储、处理能力的灵活扩展，配合PCIe高速传输提升批量测试效率，实现多模块、多仪器间的同步触发，快速数据交换与处理。
设备提供完善的编程接口，支持MATLAB、LabVIEW、Python、C# 等开发环境，助力用户快速部署自动化测试系统。卓越的同步与吞吐性能，全面适配高速生产、产线自动化测试、多端口器件表征与天线阵列测试等多元场景。
高性能控制器 全兼容机箱
鼎阳科技同步推出三款PXIe嵌入式控制器与三款PXIe机箱。MC987A/977A/937A PXIe嵌入式控制器，搭载第11代Intel®Core™ i7/i5/i3处理器，可在多任务环境下同步执行大量的独立任务。通过一个自动配置的 PCIe switch，该控制器可支持四路×4 或两路×8 的灵活链路功能，通过PCIe 3.0总线可实现高达16 GB/s的最大系统吞吐量， 支持高达32GB的DDR4内存。同步配套三款PXIe规范机箱：MR785A（3U 18槽，24GB/s系统带宽、8GB/s外设带宽）、MR590A（3U 9槽，8GB/s系统带宽、2GB/s外设带宽）、MR301A（3U 6槽，8GB/s系统带宽、2GB/s外设带宽），覆盖不同规模测试场景的高性能需求。
不止于形态，专注于卓越。模块化新品的推出丰富了鼎阳科技模块化产品线，通过硬件架构与软件生态的协同创新，以PXI与USB双形态提供更高集成度、更便携灵活的测试选择，为自动化测试系统、多端口并行测试及桌面研发、教育实验室等多元场景提供高性能解决方案
鼎阳科技发布8 GHz有源差分探头，助力高速数字电路测试
